
本书首先介绍了晶体学基础知识,然后介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、单晶体取向、多晶体的织构分析、小角X射线散射、热处理过程、薄膜及层错能测定等方面的应用;介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学动力学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜、扫描透射电镜、电子背散射衍射及原子探针等;介绍了AES、XPS、XRF、STM、AFM、LEED等常用表面分析技术和TG、DTA、DSC等常用热分析技术的原理、特点及其应用;最后简要介绍了红外光谱、拉曼光谱和ICP等。
| 馆藏号 | 馆藏地名称 | 索书号 | 文献状态 | 操作 |
|---|---|---|---|---|
| 250010340 | 自然科学书库(四楼401) (图书馆四楼401) | TB3-43 20.5 | 在馆 | 转借 |
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